測厚儀
產(chǎn) 品 說 明
45MG超聲測厚儀
45MG是一款配備有標準測量功能和軟件選項的超聲測厚儀。這款儀器與奧林巴斯的雙晶和單晶測厚探頭相兼容,是一款集多種解決方案于一機的儀器,可用于幾乎所有測厚應(yīng)用。
提供基本配置的45MG儀器是一款簡單易學(xué)的測厚儀,操作人員只需少量的培訓(xùn),就可以處理大多數(shù)常見的測厚應(yīng)用。不過,添加了可選購軟件選項和探頭之后的45MG儀器,就會變成一款功能全面的測厚儀,可以進行典型的初級儀器不能完成的應(yīng)用。此外,大多數(shù)選項可以在購買儀器時分別購買,或在日后需要時購買。
只需幾次按鍵,即可完成從簡單的腐蝕測厚儀到多功能準確測厚儀的華麗變身。45MG測厚儀提供5個需密碼激活的軟件選項,從而躋身于工業(yè)領(lǐng)域中用途廣泛的測厚儀行列。
測量 | 雙晶探頭測量模式 | 從激勵脈沖后的準確延遲到第 一個回波之間的時間間隔 |
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回波到回波(可選) | 在兩個連續(xù)底面回波之間的時間間隔,不計漆層或涂層的厚度 | |
穿透涂層測量(可選) | 利用單個底面回波,測量金屬的實際厚度和涂層厚度(使用D7906-SM、D7906-RM和D7908探頭) | |
單晶探頭測量模式(可選) |
模式1:激勵脈沖與第 一個底面回波之間的時間間隔 模式2:延遲塊回波與第 一個底面回波之間的時間間隔(使用延遲塊或水浸式探頭) 模式3:在激勵脈沖之后,位于第 一個表面回波后的相鄰底面回波之間的時間間隔(使用延遲塊探頭或水浸式探頭) |
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厚度范圍 | 0.080 mm ~ 635 mm,視材料、探頭、表面條件、溫度和所選配置而定(要測量整個厚度范圍需要使用單晶選項) | |
材料聲速范圍 | 0.508 mm/μs ~ 18.699 mm/μs | |
分辨率(可選) |
低分辨率:0.1 mm 標準分辨率:0.01 mm 單晶選項:0.001 mm |
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探頭頻率范圍 | 標準:2.25 MHz ~ 30 MHz(-3 dB);高穿透(單晶選項):0.50 MHz ~ 30 MHz(-3 dB) | |
一般規(guī)格 | 操作溫度范圍 | -10 °C ~ 50 °C |
鍵區(qū) | 密封、以色彩區(qū)分功能的鍵區(qū),帶有觸感及聲音反饋 | |
機殼 | 防撞擊、防水、裝有密封墊的機殼,機殼上的接口密封。 設(shè)計符合IP67標準。 | |
外型尺寸(寬 × 高 × 厚) | 總體尺寸:91.1 mm × 162 mm × 41.1 mm | |
重量 | 430.9克 | |
電源供應(yīng) | 3節(jié)AA電池 / USB電源供應(yīng) | |
電池供電時間 |
3節(jié)AA堿性電池:20 ~ 21小時 3節(jié)AA鎳氫電池:22 ~ 23小時 AA鋰電池:35 ~ 36小時 |
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標準 | 設(shè)計符合EN15317標準 | |
顯示 | 彩色透反QVGA顯示 | 液晶顯示,顯示屏尺寸:54.61毫米 × 41.15毫米 |
檢波 | 全波、射頻波、正半波、負半波(波形選項) | |
輸入/輸出 | USB | 2.0客戶端 |
存儲卡 | Z大容量:2 GB可插拔microSD存儲卡 | |
內(nèi)置數(shù)據(jù)記錄器(可選) | 數(shù)據(jù)記錄器 | 45MG通過USB或microSD卡識別、存儲、調(diào)用、清除及傳輸厚度讀數(shù)、波形圖像和儀器配置信息。 |
容量 | 475000個厚度測量讀數(shù),或20000個帶厚度值的波形 | |
文件名、ID編碼和注釋 | 不超過32個字符的文件名,不超過20個字符的字母數(shù)字位碼,每個位有4個注釋。 | |
文件結(jié)構(gòu) | 6個標準的或自定義的用于特定應(yīng)用的文件結(jié)構(gòu) | |
報告 | 機載報告,總結(jié)了數(shù)據(jù)統(tǒng)計和Z小值/Z大值 |